微电子的可靠性
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有效（PD，NI）SN4扩散屏障，以抑制带有Ni（P）/PD（P）/AU金属化垫的SN-58BI-XAG焊接处脆性断裂
2022◽
第129卷 ◽
第114472页
作者：
Jungsoo Kim ◽
达扬公园 ◽
Byeongjin Ahn ◽
Junghwan Bang ◽
Min-Su Kim ◽
...
关键字：
脆性断裂 ◽
焊接关节 ◽
扩散屏障

考虑故障和测试之间的支撑关系的新型可验证性建模和诊断方法
2022◽
第129卷 ◽
pp。114463
作者：
Junyou Shi ◽
YI邓 ◽
Zili Wang
关键字：
诊断方法

过程引起的经线和通过嵌入式插座载体与环型框架对通过玻璃的应力估算
2022◽
第129卷 ◽
第114476页
作者：
Pei-chen黄 ◽
Yu-min lin ◽
刘 ◽
Chang-Chun Lee
关键字：
环类型 ◽
压力估计

FinFETS中的Gate-Ox-Short缺陷分析和故障建模
2022◽
第129卷 ◽
pp。114464
作者：
Roya Dibaj ◽
达明·阿尔·哈利里（Dhamin al-Khalili） ◽
Maitham Shams ◽
萨曼·阿德姆（Saman Adham）
关键字：
门氧化物 ◽
故障建模 ◽
缺陷分析 ◽
门氧化物短

新颖的ESD设备设计用于STT-MRAM内存芯片
2022◽
第129卷 ◽
pp。114474
作者：
张张 ◽
扬冯·江
关键字：
设备设计 ◽
内存芯片

对装配过程可靠性的印刷电路干燥方法的比较分析
2022◽
第129卷 ◽
第114478页
作者：
Piotr Ciszewski ◽
Mariusz Sochacki ◽
wojciechstęplewski ◽
MarekKościelski ◽
AnetaAraína ◽
...
关键字：
对比分析 ◽
干燥方法 ◽
组装过程 ◽
印刷电路

LED在系统级别的电热耦合和性能估计
2022◽
第129卷 ◽
pp。114462
作者：
Haotian Meng ◽
范明·孔 ◽
康李
关键字：
绩效估计 ◽
系统级别 ◽
热耦合 ◽
和性能

多指MOSFET几何形状对RF电路的电性能的影响
2022◽
第129卷 ◽
pp。114445
作者：
Sehmi Saad ◽
Fayrouz Haddad ◽
艾门·本·哈马迪（Aymen Hammadi）
关键字：
RF电路 ◽
电性能

针对3D IC中聚类TSV缺陷的成本效益的维修方案
2022◽
第129卷 ◽
pp。114460
作者：
Dilip Kumar Maity ◽
Surajit Kumar Roy ◽
钱丹·吉里（Chandan Giri）
关键字：
成本效益 ◽
3D IC

分析新型SOI样LDMOS结构的辐射效应
2022◽
第129卷 ◽
第114471页
作者：
杨阳 ◽
王 ◽
Cheng-Hao Yu ◽
孟 - 蒂恩·宝 ◽
Fei Cao
关键字：
辐射效应
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